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輪廓儀代表了表面形貌測量技術的水平，專為高精度、高分辨率的二維/三維輪廓與粗糙度分析而設計。PGI 采用獨特的相位光柵干涉原理結合接觸式探針技術，能夠同時實現(xiàn)納米級垂直分辨率和毫米級測量范圍，在光學元件、半導體、精密軸承及醫(yī)療器械等領域具有廣泛應用。

PGI 輪廓儀的核心優(yōu)勢在于其超高精度與多功能性。其垂直分辨率可達0.1 nm，橫向分辨率優(yōu)于0.1 µm，可精確捕捉微小表面特征，如劃痕、波紋度、臺階高度等。系統(tǒng)支持全自動測量流程，包括自動調平、自動對焦和路徑規(guī)劃，大幅減少人為誤差。配合 Taylor Hobson 強大的 Metrology 軟件平臺，用戶可進行復雜的形貌分析、濾波處理、參數(shù)計算及合規(guī)性評估，滿足 ISO 11562、ISO 13565 等國際標準要求。

PGI 系列還提供多種探針配置和可選附件，適用于不同材質和幾何形狀的樣品。其模塊化設計便于升級與維護，支持與其他計量設備集成，構建完整的質量控制體系。